Атомдық-күштік микроскопия (AFM) наноқұрылымдарды бейнелеуге және материалдардың қасиеттерін зерттеуге мүмкіндік береді. Алайда нүктелерді біртіндеп сканерлеу кескін түсіру жылдамдығы мен кеңістіктік айырымдылығын қатар арттыруды қиындатады. Қытай Ғылым академиясының Шанхай керамика институтының зерттеу тобы бұл мәселені шешуге арналған StableAFM физикаға негізделген генеративті супер-айырымдылық моделін әзірледі.
Модель AFM өлшеу физикасын жасырын кеңістіктегі диффузиялық модельмен біріктіреді және кескінді қалпына келтіруді бастапқы өлшеу деректерімен шектейді. Ол жылдам, сирек сканерлеу жағдайында кеңістіктік ұсақ бөлшектерді қалпына келтіруге арналған. Зерттеушілер алдымен кескіннің негізгі құрылымын AFM-SwinIR желісімен қалпына келтіріп, кейін бейімделген диффузиялық модель арқылы интерфейстер мен жергілікті ерекшеліктерді нақтылаған.
Жасанды түрде жасалған бөлшектердің тәжірибелік деректерден ауытқуын азайту үшін команда нәтижені бастапқы төмен айырымдылықтағы өлшеу торына сәйкестендіріп, қайта құру мен нақты деректер арасындағы айырмашылыққа қарай түзететін әдіс ұсынды. Сынақтарда өлшеудің физикалық шектеулері енгізілген модельдің орташа квадраттық қатесі шамамен 31,3%-ға төмендеді.
